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导热系数测定仪@DRE-III多功能快速导热系数测试仪(瞬态平面热源法、HotDisk法)探头要求

发布时间:2020/3/18 8:52:21 点击次数:1344次

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一、导热系数测定仪@DRE-III多功能快速导热系数测试仪(瞬态平面热源法、HotDisk法)概述:
本导热仪
采用瞬态平面热源法,基于TPS瞬态平面热源技术,用Hot Disk探头,专用高精度单元仪表的测试与通迅技术,利用计算机高速数据处理技术对探头进行快速数据采集、通过完善的数学模型快速计算,能迅速测试出准确可靠的结果;专业仪表使整机可靠性特高,操作方便,维护迅速方便。
   该仪器的优点有:
    (1)直接测量热传播,可以节约大量的时间;
    (2)不会和静态法一样受到接触热阻的影响;
    (3)无须特别的样品制备,对固态材料只需有一个相对平整的样品表面。具有测量速度快、适用范围宽以及能够成功避免在实验过程中自然对流的影响等优点,是目前比较流行的测试方法。
 
     设备参考标准:ISO 22007-2 2008。
    测试材料: 金属、陶瓷、合金、导热硅脂、硅胶、硅橡胶、岩土、岩石、聚合物、纸、织物、泡沫塑料、混凝土、复合板材、纸蜂窝板等固体、粉末、液体、糊状、涂层、薄膜、各向异性材料等的导热系数、导温系数(热扩散系数)和比热容、蓄热系数及热阻。

二、导热系数测定仪@DRE-III多功能快速导热系数测试仪(瞬态平面热源法、HotDisk法)技术参数:
1.导热系数测定范围:0.0001~100 w/(m.k),分辩率为0.00001w/(m.k);
2.热扩散系数(导温系数)范围:0.1~100 m2/s;
3.蓄热系数范围:0.1~30 w/(m2.k);
4.比热容范围:0.1~5 kJ/(kg.℃);
5.热阻范围:0.5~0.000005 mm2.k/w;
6.温度测量精度:≤0.001℃;
7.测量相对误差:≤3%;
8.重复性误差:≤ 3%;          
9.测时间:1~120 秒。
10.试样测试温度范围-40~130℃;标准配置:室温。
可根据客户要求选配各种高、低温度段控制箱(-40130℃)或真空状态下的测试状态,合同约定,费用另计;
11. 探头配置:标准配置:直径Φ15mm。可根据客户要求选配探头直径:Φ15mm、Φ7.5mm、或同时配置,合同约定,费用另计;
12. 试样要求:
          a、固体块状或圆形、方形、异形样品,无须特别制备,只需一个相对平整的样品表面,配有专用试样装夹装置。Φ7.5mm探头所测样品最小尺寸(15x15x3.75mm), Φ15mm探头所测样品最小尺寸 (30x30x7.5mm)。
          b、对粉状、糊状、液状物质无特殊要求,配有专用试样测试盒。 
      c、所测较薄材料,可将样品进行叠加测试。
13.采用全自动测试软件,快速准确对样品进行试验过程参数分析和报告输出。
14.电源:AC 220V±10%,50/60 Hz, 整机功率:<500w;
 
三、导热系数测定仪@DRE-III多功能快速导热系数测试仪(瞬态平面热源法、HotDisk法)探头指标:
1. 加热材料:金属镍;
2. 使用温度:-50~150℃;
3. 最大功率:20w;
4. 最大电压:20V;
5. 最大电流:1A;
6. 电阻:10Ω左右,依探头上标注阻值为准;
7. 镍丝规格:厚度0.01mm,热丝宽度:0.35±0.03mm;
   热丝间距:0.35±0.03mm ;
8. 保护层材料:聚酰亚胺薄膜(Kapton);单层厚度:0.06mm;
9. 探头直径:Φ15mm,Φ7.5mm两种。
10.探头总厚度(包括粘结层厚度)0.07±0.02mm。

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